Confovis versteht sich als Systemanbieter für optische 3D-Messsysteme für den industriellen Einsatz. Seit 2009 am Markt, setzt das Unternehmen auf kundennahe und anwendungsorientierte Lösungen. Mit seiner patentierten Technologie der Strukturierten Beleuchtung - basierend auf der Konfokal-Messtechnik - ergeben sich neue Möglichkeiten zur schnellen und nanometergenauen Oberflächenanalyse für industrielle Anwendungen.
Mit der neusten Gerätegeneration kombiniert Confovis die Konfokal-Messtechnik und die Fokusvariation in einem System. Damit bietet der Messtechnik-Spezialist Industriekunden aus den Bereichen Automotive & Aerospace, Werkzeug- und Maschinenbau, Metallurgie-, Halbleiter-, und optische Industrie eine zeit- und kostensparende Lösung für unterschiedlichste Messaufgaben, wie Mikrokontur- und Rauheitsmessungen.
Bei den Messtechnik-Lösungen von Confovis stehen die Anwendungen im Vordergrund. Neben der Konfokal-Messtechnik, die als Strukturierte Beleuchtung von Confovis weiterentwickelt und auch patentiert wurde, steht die Fokusvariation zusätzlich als Messverfahren zur Verfügung. In der neuesten Messgeräte-Generation bietet Confovis auch beide Messverfahren in einem Messgerät an. Damit erhält der Kunde eine höchstmögliche Flexibilität und einen deutlichen Mehrwert.
Das Konfokal-Messverfahren basierend auf der Structured Illumination Microscopy (SIM) und die Fokusvariation sind keine konkurrierenden sondern sich ergänzende Messverfahren. Mit der Fokusvariation lassen sich zum Beispiel Mikro-Geometrien am Werkzeugen sehr gut messen, weil das Verfahren auch Strukturen mit großen Akzeptanzwinkeln erfassen kann.
Oftmals ist es jedoch erforderlich, relevante Stellen mit höherer Genauigkeit zu erfassen, um beispielsweise Rauheit normgerecht bestimmen zu können. Bei Werkzeugen ist dies notwendig, um die Rauheit z.B. an der Spanfläche oder die Schartigkeit der Schneidkante zu ermitteln. Für die Rauheitsmessungen ist die Konfokal-Messung aufgrund ihrer hohen axialen Auflösung vorteilhaft. Außerdem können mit der Konfokal-Messung sogar spiegelnde Oberflächen mit hoher Reflektivität erfasst werden.
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